Elektronová mikroskopie a EDX mikroanalýza

Nedestruktivní rentgenová mikroanalýza může být prováděna na vzorcích o objemech v řádu mm³.  Průměr analyzované oblasti lze nastavit od 0.05mm do 3 mm. Pomocí užitého detektoru lze analyzovat prvky s atomovými čísly 5 - 92, tj. od bóru až po uran. 
Povrchová charakterizace vodivých i nevodivých materiálů (JEOL) s rozlišením až 4 nm. Zvětšení 18 - 300 000x (136 kroků), pozorování ve zpětně odražených elektronech (rozlišení různých fází či nehomogenit). Možnost práce v nízkém vakuu 1-270 Pa (možnost pozorování nevodivých vzorků bez nutnosti jejich pokovení).

Kontakt: Ing. Milan Vlček, CSc.

Skenovací elektronový mikroskop
JEOL JSM-5500LV s rentgenovým energiově disperzním (EDX) mikroanalyzátorem IXRF Systems (detektor GRESHAM Sirius 10)

OLYMPUS BX 60 s ohřívacím stolkem LINKAM THMS

Optická mikroskopie

Zvětšení v rozsahu 50 - 500x, reflexní a transmisní mód, v BF, DF a polarizovaném světle. Optický stolek je snadno vyměnitelný za ohřívací stolek LINKAM THMS 600. Ohřívací stolek je opatřen programovatelnou jednotkou s možností regulace v teplotním rozsahu od - 196 °C do +600 °C s rychlostí chlazení resp. ohřevu 0.01-130 °C/min. Izotermní měření s možností nastavení až 9 prodlev. Mikroskop i stolek jsou spojeny s počítačem, fotografickým aparátem a CCD kamerou.

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

Diferenciální termická analýza

• Rozsah měření 25 - 1000 ^oC.
• Použitelné rychlosti ohřevu/chlazení 1-25 ^oC/min.
• Měření v křemenných ampulkách.

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

R.M.I. - DTA03 (R.M.I. Elecronic Measuring Instruments, ČR)

DSC Perkin-Elmer (Diamond)

Diferenciální skenovací kalorimetrie (kompenzační)

• Rozsah měření -70 – +600 ^oC.
• Použitelné rychlosti ohřevu/chlazení 0.5 – 500 ^oC/min.
• Měření v hliníkových kelímcích.

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

FTIR spektroskopie

Možnost měření propustnosti (samonosné vzorky, KBr resp. nujol), zrcadlové a difuzní reflektivity (směs v KBr, PE resp. obrus na SiC discích) pevných látek v infračervené oblasti (od 200 mm do 0.9 mm - tj. FAR, MID a NEAR-IČ).

Měření teplotní závislosti propustnosti na He-kryostatu

Kontakt: Ing. Jiří Navrátil, CSc. Ing. Miloslav Kincl

FT-IR spektrometry

• Nicolet NEXUS (FAR - NEAR IR)
• BioRad FTS 175C (MID - NEAR IR)
• BioRad FTS 45 (FAR)  

DMA - DX04TH
PERKIN-ELMER Lambda 12

UV - VIS spektroskopie

Měření reflektivity a transmise v oblasti vlnových délek 400-1100 nm, rozlišení až 0.2 nm.

Možnost měření teplotní závislosti optické propustnosti v optickém kryostatu ...

Kontakt: Ing. Miloslav Kincl

Diferenciální skenovací kalorimetrie

(teplotně-vodivostní)

• Rozsah měření 25 – 400 ^oC.
• Použitelné rychlosti ohřevu/chlazení 1 - 25 ^oC/min.
• Měření v hliníkových kelímcích

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

DSC 12E Mettler Toledo