Základní diagnostické metody

 

Elektronová mikroskopie a EDX mikroanalýza

Kontakt: Ing. Milan Vlček, CSc.

Nedestruktivní rentgenová mikroanalýza může být prováděna na vzorcích o objemech v řádu mm3.  Průměr analyzované oblasti lze nastavit od 0.05mm do 3 mm. Pomocí užitého detektoru lze analyzovat prvky s atomovými čísly 5 - 92, tj. od bóru až po uran. 

Povrchová charakterizace vodivých i nevodivých materiálů (JEOL) s rozlišením až 4 nm. Zvětšení 18 - 300 000x (136 kroků), pozorování ve zpětně odražených elektronech (rozlišení různých fází či nehomogenit). Možnost práce v nízkém vakuu 1-270 Pa (možnost pozorování nevodivých vzorků bez nutnosti jejich pokovení).

 

Skenovací elektronový mikroskop JEOL JSM-5500LV s rentgenovým energiově disperzním (EDX) mikroanalyzátorem IXRF Systems (detektor GRESHAM Sirius 10)

 

Optická mikroskopie

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

Zvětšení v rozsahu 50 - 500x, reflexní a transmisní mód, v BF, DF a polarizovaném světle. Optický stolek je snadno vyměnitelný za ohřívací stolek LINKAM THMS 600. Ohřívací stolek je opatřen programovatelnou jednotkou s možností regulace v teplotním rozsahu od - 196 °C do +600 °C s rychlostí chlazení resp. ohřevu 0.01-130 °C/min. Izotermní měření s možností nastavení až 9 prodlev. Mikroskop i stolek jsou spojeny s počítačem, fotografickým aparátem a CCD kamerou. 

OLYMPUS BX 60 s ohřívacím stolkem LINKAM THMS

 

Diferenciální termická analýza

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

 

R.M.I. - DTA03 (R.M.I. Elecronic Measuring Instruments, ČR)

 

 

  • Rozsah měření 25 - 1000 oC.
  • Použitelné rychlosti ohřevu/chlazení 1-25 oC/min.
  • Měření v křemenných ampulkách.

Diferenciální skenovací kalorimetrie (kompenzační)

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

  • Rozsah měření -70 – +600 oC.
  • Použitelné rychlosti ohřevu/chlazení 0.5 – 500 oC/min.
  • Měření v hliníkových kelímcích.

 

DSC Perkin-Elmer (Diamond)

 

FTIR spektroskopie

Možnost měření propustnosti (samonosné vzorky, KBr resp. nujol), zrcadlové a difuzní reflektivity (směs v KBr, PE resp. obrus na SiC discích) pevných látek v infračervené oblasti (od 200 mm do 0.9 mm - tj. FAR, MID a NEAR-IČ). Měření teplotní závislosti propustnosti na He-kryostatu

Kontakt: Ing. Jiří Navrátil, CSc. Ing. Miloslav Kincl

 

 

Nicolet NEXUS (FAR - NEAR IR)

BioRad FTS 175C (MID - NEAR IR)

 

UV - VIS spektroskopie

Kontakt: Ing. Miloslav Kincl

Měření reflektivity a transmise v oblasti vlnových délek 400-1100 nm, rozlišení až 0.2 nm. Možnost měření teplotní závislosti optické propustnosti v optickém kryostatu ...

 

 

DMA - DX04TH
PERKIN-ELMER Lambda 12

 

Diferenciální skenovací kalorimetrie (teplotně-vodivostní)

Kontakt: Ing. Eva Černošková, CSc.

 

  • Rozsah měření 25 – 400 oC.
  • Použitelné rychlosti ohřevu/chlazení 1 - 25 oC/min.
  • Měření v hliníkových kelímcích

 

DSC 12E Mettler Toledo