Servisní činnost

Laboratoř elektronové mikroskopie a rentgenové analýzy

 

Zodpovědný pracovník: Ing. Milan Vlček, CSc.
Telefon: 46 603 6151
Fax: 46 603 6011
E-mail: milan.vlcek@upce.cz  

Přístrojové vybavení:

Elektronový mikroskop JEOL JSM-5500LV a rentgenovýho energiově disperzní mikroanalyzátor IXRF Systems (detektor GRESHAM Sirius 10).
Mikroskop OLYMPUS BX 60 s vyhřívacím a chladícím stolkem LINKAM THMS 600.

Prováděná měření:

  1. Fotografie povrchu vzorků v sekundárních (SE) a zpětně odražených (BSE) elektronech.
  2. Bodová kvalitativní a kvantitativní analýza anorganických látek (bor - uran).
  3. Určení průběhu koncentrace vybraných prvků na zvolené přímce.
  4. Zhotovení koncentrační rentgenové mapy na vybrané části povrchu

 

Laboratoř FTIR spektroskopie

 

Zodpovědný pracovník: Ing. Jiří Navrátil, CSc.
Telefon: 46 603 6152
Fax: 46 603 6011
E-mail: jiri.navratil@upce.cz  

Přístrojové vybavení:

FT-IR spektrofotometr Nicolet NEXUS (FAR - NEAR IR) a BioRad FTS 175C (15 000 - 10cm-1), optický kryostat OptistatCF-V.

Prováděná měření:
Měření spekter (propustnosti, zrcadlové a difuzní odrazivosti) materiálů a jejich zpracování a interpretace s využitím širokého firemního i vlastního programového vybavení (určování některých materiálových parametrů, možnost kvantitativní analýzy). Spektrální rozsah 15 000 - 10 cm-1. Možnost měření teplotní závislosti optické propustnosti. Standardně -195 °C do +400 °C. Lze měřit i od kapalného helia (reálně -265 °C).


Laboratoř termické analýzy

 

Zodpovědný pracovník: Ing. Eva Čenošková, CSc.
Telefon: 46 603 6154
Fax: 46 603 6011
E-mail: eva.cernoskova@upce.cz  

Přístrojové vybavení:

DSC Mettler 12E, DSC Diamond Perkin-Elmer, DTA RMI 03, Olympus DX 60 s teplotním stolkem Linkam.

Prováděná měření:

  1. Diferenciální skenovací kalorimetrie (heat flow), Mettler DSC 13E , oboru teplot 25 - 400 °C a rychlostí ohřevu 1 - 20 K/min s možností pracovat v různých typech atmosfér. Měření je prováděno v hliníkových kelímcích. Navážky se pohybují kolem 10 mg. Stanovení teploty fázových transformací, teplot skelného přechodu a velikosti odpovídajících entalpických změn.
  2. Diferenciální skenovací kalorimetrie (power compensated), Diamond DSC PE, v oboru teplot -70 -600 °C s rychlostí ohřevu 1- 500 K/min. Měření je prováděno v hliníkových kelímcích. Navážky od 1 mg. Vybaven technikou StepScan DSC umožňující oddělení pomalých a rychlých dějů a přímého měření teplotní závislosti tepelné kapacity a rovněž stanovení teploty fázových transformací, teplot skelného přechodu a velikosti odpovídajících entalpických změn.
  3. Diferenciální termická analýza (DTA), DTA-RMI 03, v oboru teplot 25-850 °C a rychlostí ohřevu 1 - 50 °C/min. Měření je prováděno v evakuovaných zatavených křemenných ampulkách. Navážky se pohybují kolem 50 mg. Metoda vhodná zejména pro stanovení teplot krystalizace a taní.
  4. Optický mikroskop,Olympus BX 60, je možno použít v transmisním i reflexním modu s maximálním zvětšením 500x. Mikroskop je vybaven polarizátorem a Nomarského technikou. Je doplněn CCD kamerou a fotoaparátem přímo spojeným s počítačem. Optický stolek, je možno nahradit teplotním stolkem Linkam.

 

Laboratoř AFM mikroskopie

 
Zodpovědný pracovník: Ing. Petr Knotek
Telefon: 46 603 6155
Fax:46 603 6011
E-mail: petr.knotek@upce.cz  


Přístrojové vybavení:
 
Modulární (AFM, AFAM, STM) SPM mikroskop Solver Pro M (NT-MDT, Rusko) vybavený optickou kamerou pro přiblížení. V rozsahu 0,5 x 0,5 mm2 po plochu 100x100 mm2 zobrazuje prostou topologii, mapuje mechanické, elektrické a magnetické vlastnosti. Na vodivých, rovných vzorcích lze v STM modu měřit s atomárním rozlišením.
 
Prováděná měření:
   1. Detekce povrchu vzorku s maximálními rozměry 100 x 20 mm2, popřípadě vysušených suspenzí v intervalu velikostí od nanočástic až po jednotky mm.
   2. Mapování mechanických vlastností (Youngův modul pružnosti), elektrických (povrchový potenciál, kapacitance...) a magnetických vlastností.
   3. Měření pod kapalinou, vhodné zejména pro biologické vzorky či materiály na vzduchu degradující.
   4. Statistické zpracování dat z pohledu topologie (hrubost, histogram velikostí částic, detekce a vzdálenosti defektů...).